主頁（http://www.130131.com）：磁盤陣列系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)簡(jiǎn)述

隨著數(shù)字化時(shí)代的來臨，安防產(chǎn)業(yè)對(duì)于儲(chǔ)存系統(tǒng)的需求也越趨嚴(yán)苛，一個(gè)高質(zhì)量及具經(jīng)濟(jì)效益的磁盤陣列儲(chǔ)存設(shè)備，能夠提供安防廠商最佳的儲(chǔ)存應(yīng)用方案，但如何確實(shí)設(shè)計(jì)出完整穩(wěn)定的磁盤陣列系統(tǒng)產(chǎn)品，卻是一大難題。本文重點(diǎn)即為闡述磁盤陣列產(chǎn)品的設(shè)計(jì)過程，同時(shí)說明產(chǎn)品上市前所需通過的測(cè)試技術(shù)，以提供使用者穩(wěn)定可靠的儲(chǔ)存環(huán)境。

磁盤陣列的韌體Firmware及硬件除了要具備數(shù)據(jù)保護(hù)技術(shù)的條件之外，要設(shè)計(jì)出可靠穩(wěn)定的磁盤陣列，從建立產(chǎn)品規(guī)格、研發(fā)、樣品試做，驗(yàn)證部門測(cè)試功\能等，每個(gè)環(huán)節(jié)皆不可輕忽。以下從各種硬件及機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì)角度導(dǎo)入，系統(tǒng)設(shè)計(jì)理念也就此成形。

溫度測(cè)試
由于磁盤陣列系統(tǒng)是由數(shù)個(gè)組件，如控制器、硬盤、電源供應(yīng)器、電路板、抽盒及系統(tǒng)外殼等所組成，因此眾多電子零組件所產(chǎn)生的大量熱能是設(shè)計(jì)過程中必須考慮的重要因素。良好的散熱設(shè)計(jì)必須能迅速導(dǎo)熱及散熱，系統(tǒng)才能達(dá)到最佳穩(wěn)定狀態(tài)。

想達(dá)到散熱的目的，就要充分運(yùn)用空間，由進(jìn)氣風(fēng)向順利引導(dǎo)到熱源區(qū)域，將熱能排到出口處，達(dá)到最佳的散熱效能，同時(shí)搭配熱傳導(dǎo)性高的散熱片以及冷卻風(fēng)扇，達(dá)到散熱的最佳效用，才能確保磁盤陣列系統(tǒng)的正常運(yùn)作。散熱情形如圖一所示，動(dòng)線為風(fēng)的流動(dòng)方向。

為了評(píng)估產(chǎn)品的散熱效果，采用電子熱能分析儀軟件，分析其散熱效率，不僅能減少時(shí)間上的浪費(fèi)，同時(shí)也能得到準(zhǔn)確的溫度驗(yàn)證結(jié)果。以實(shí)驗(yàn)室的環(huán)境溫度攝氏40度為標(biāo)準(zhǔn)，磁盤陣列必須經(jīng)由最嚴(yán)苛的質(zhì)量管控，進(jìn)行熱能分析驗(yàn)證，以達(dá)到系統(tǒng)均勻散熱的考驗(yàn)，唯有在嚴(yán)苛的溫度條件下，原廠才能不斷從理論及實(shí)驗(yàn)的經(jīng)驗(yàn)中，設(shè)計(jì)出最佳的熱能解決方案。

溫度測(cè)試的條件以周圍環(huán)境的高或低溫變化如表一所示，來進(jìn)行磁盤陣列系統(tǒng)內(nèi)部各個(gè)發(fā)熱零組件溫度測(cè)試，由實(shí)際測(cè)試所得到的結(jié)果，才能證明進(jìn)氣風(fēng)向是否能順利引導(dǎo)到熱源區(qū)域，從而將熱能排出。

振動(dòng)測(cè)試
為了確�？蛻羰盏酱疟P陣列系統(tǒng)后能夠順利進(jìn)行安裝、測(cè)試及上線運(yùn)轉(zhuǎn)使用，產(chǎn)品出貨運(yùn)輸途中或上線運(yùn)轉(zhuǎn)后，振動(dòng)環(huán)境測(cè)試與驗(yàn)證是磁盤陣列系統(tǒng)可靠度重要的一環(huán)。

磁盤陣列系統(tǒng)，經(jīng)過實(shí)驗(yàn)室做程序化連續(xù)振動(dòng)仿真，以驗(yàn)證系統(tǒng)在工作周期，或包裝后運(yùn)送周期是否正常，原廠商需采用知名驗(yàn)證機(jī)構(gòu)，將測(cè)試結(jié)果導(dǎo)入設(shè)計(jì)，才能確保磁盤陣列系統(tǒng)設(shè)計(jì)與功\能達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)。驗(yàn)證程序的設(shè)定，需依據(jù)業(yè)界規(guī)定項(xiàng)目并以實(shí)際制品為準(zhǔn)，針對(duì)試驗(yàn)加速度，試驗(yàn)軸向如圖二、試驗(yàn)時(shí)間、試驗(yàn)嚴(yán)厲度等等相關(guān)條件進(jìn)行審查測(cè)試。

振動(dòng)試驗(yàn)條件有包含設(shè)計(jì)階段的正弦波（Sine Wave）測(cè)試，或隨機(jī)波（Random Wave）測(cè)試，它以不同的測(cè)試頻率、時(shí)間設(shè)定、依其類別做各軸向振動(dòng)試驗(yàn)，如表二。

完成振動(dòng)試驗(yàn)測(cè)試后的磁盤陣列系統(tǒng)后，產(chǎn)品必須符合以下條件才算合格：
1. 測(cè)試后必須符合其性能或功\能檢查
2.測(cè)試后內(nèi)部構(gòu)造不得變形、受損、或脫落。
3.測(cè)試后其外觀及其附件不得變形、受損。
沖擊及落下測(cè)試
安裝磁盤陣列系統(tǒng)到機(jī)柜（Cabinet or Rack）上時(shí)，操作人員可能會(huì)造成系統(tǒng)與機(jī)柜間的碰撞或沖擊，或在搬運(yùn)過程中發(fā)生碰撞或沖擊，因此磁盤陣列系統(tǒng)的沖擊測(cè)試主要以系統(tǒng)可能遭遇的沖擊效應(yīng)，用以分析系統(tǒng)承受外力的能力。
沖擊測(cè)試的試驗(yàn)需進(jìn)行各X、Y、Z軸向的測(cè)試與時(shí)間，做如下條件試驗(yàn)：
1. 半正弦波 （halfSine Wave）試驗(yàn)，用以測(cè)試磁盤陣列外觀的強(qiáng)度。
2. 高加速?zèng)_擊試驗(yàn)，用以測(cè)試磁盤陣列的脆性材料的承受度。
3. 方波 （Square Wave）試驗(yàn)，用以測(cè)試磁盤陣列的整體結(jié)構(gòu)強(qiáng)度。
4. 鋸齒波（Sawtooth Wave） 試驗(yàn)，用以增強(qiáng)上述測(cè)試的條件。
落下測(cè)試是針對(duì)包裝完成的磁盤陣列系統(tǒng)產(chǎn)品，藉由良好的包裝材料與設(shè)計(jì)，確保系統(tǒng)的保護(hù)能力，也透過防振與系統(tǒng)本身的抗跌程序達(dá)到最佳強(qiáng)度，試驗(yàn)時(shí)需進(jìn)行包裝箱各脆弱角（Corner）以及各個(gè)表面做上面，下面、左側(cè)、右側(cè)、前面、后面等各種角度進(jìn)行落下測(cè)試，以確保磁盤陣列系統(tǒng)功\能正常與外觀無任何損壞。

電磁波與安全商標(biāo)認(rèn)證
全世界各國(guó)科技文化及習(xí)慣不盡相同，各國(guó)之間的顯著差異，都反映在其工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)及法律條文上，電磁波與安全標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證是決定磁盤陣列系統(tǒng)是否可靠的重要項(xiàng)目，在全球企業(yè)追求嚴(yán)苛質(zhì)量之際，磁盤陣列系統(tǒng)的安全標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證是產(chǎn)品進(jìn)軍國(guó)際市場(chǎng)的必要測(cè)試項(xiàng)目。

磁盤陣列系統(tǒng)的各項(xiàng)認(rèn)證，其方法的主要用意在于確保：
1. 產(chǎn)品必須不危及消費(fèi)者及環(huán)境，不妨礙健康，才可以在市場(chǎng)上流通。
2. 符合標(biāo)準(zhǔn)的合法上市的產(chǎn)品，可在其國(guó)家銷售，或其它同盟會(huì)員國(guó)銷售。
無論是溫度、振動(dòng)、沖擊及落下測(cè)試、電磁波與安全商標(biāo)認(rèn)證等，磁盤陣列系統(tǒng)都必須經(jīng)過最嚴(yán)苛的質(zhì)量管控，擁有可靠的MTBF （Mean Time Between Failures）測(cè)試能力，并通過上萬項(xiàng)軟硬件測(cè)試項(xiàng)目，才能提供世界級(jí)的質(zhì)量水平，讓產(chǎn)品走向國(guó)際。